Phát hiện sớm nguy cơ trẻ tự kỷ qua võng mạc

Cập nhật: 15/03/2021

VOV.VN - Một nhóm nhà khoa học tại Hong Kong (Trung Quốc) đang phát triển phương pháp sử dụng máy ảnh độ phân giải cao và công nghệ trí tuệ nhân tạo để hân tích võng mạc, phát hiện sớm nguy cơ trẻ tự kỷ.

Phương pháp này có thể được đưa vào sử dụng rộng rãi trong những năm tới. 

Theo các nhà khoa học Hong Kong (Trung Quốc), phương pháp chụp võng mạc được thực hiện nhanh chóng, không cần can thiệp xâm lấn và có độ chính xác cao. Kết quả cho thấy, trẻ mắc rối loạn phổ tự kỷ (ASD) thường sẽ có hình ảnh đường kính đĩa thị - nơi dây thần kinh thị đi vào nhãn cầu và hố đĩa – bộ phận ở giữa đĩa thị - lớn hơn so với trẻ em không mắc. Các thử nghiệm được thực hiện với 70 trẻ em từ 6-13 tuổi, gồm 46 trẻ mắc rối loạn phổ tự kỷ (ASD), cho kết quả chính xác tới 95,7%.

Giáo sư Từ Trọng Ương (Benny Zee) – Trưởng nhóm nghiên cứu tại Đại học Hong Kong, Trung Quốc cho biết: “Với công nghệ phân tích võng mạc, chúng tôi có thể đánh giá nguy cơ trẻ tự kỷ ở thời điểm khá sớm. Việc can thiệp sớm là rất quan trọng bởi trẻ còn phát triển và do vậy cơ hội chữa trị thành công cao hơn”.

Nhiều nhà nghiên cứu về chứng tự kỷ bày tỏ vui mừng về phương pháp mới này, song cho rằng vẫn còn sự kỳ thị, phân biệt đối xử nhằm vào những đứa trẻ mắc tự kỷ. Nhiều cha mẹ thậm chí không tin rằng con mình mắc tự kỷ dù đã xuất hiện các triệu chứng rõ ràng.

Với biểu hiện sinh học mà nghiên cứu mới mang lại, các nhà khoa học hy vọng các bậc phụ huynh sẽ sớm chấp nhận sự thật và giúp trẻ được điều trị nhanh hơn.

Rối loạn phổ tự kỷ là một rối loạn sinh học thần kinh phức tạp, bao gồm các biểu hiện lâm sàng đặc trưng với khả năng thiếu hụt về kỹ năng xã hội, các hành vi lặp lại và thiếu hụt hay thậm chí không có khả năng giao tiếp và ngôn ngữ. Theo Tổ chức Y tế Thế giới, trên phạm vi toàn cầu, cứ khoảng 160 trẻ em thì có 1 trẻ mắc rối loạn phổ tự kỷ./.

Từ khóa: trẻ tự kỷ, rối loạn tự kỷ, võng mạc

Thể loại: Y tế

Tác giả:

Nguồn tin: VOVVN

Bình luận






Đăng nhập trước khi gửi bình luận Đăng nhập