Hàn Quốc tăng cường trừng phạt rò rỉ công nghệ chip, màn hình

Cập nhật: 31/08/2023

VOV.VN - Tòa án tối cao Hàn Quốc sẽ giám sát tăng cường việc tuyên án và kéo dài thời gian ngồi tù đối với tội danh làm rò rỉ công nghệ Hàn Quốc.

Liên quan đến việc trừng phạt tội danh làm rò rỉ công nghệ chip và màn hình, Hàn Quốc sẽ tăng cường các hình phạt và thực thi giám sát việc tuyên án đối với tội đánh cắp bí mật công nghiệp, sau những lo ngại cho rằng quy định hiện hành không đủ mạnh để ngăn chặn các nỗ lực chuyển giao công nghệ từ các công ty công nghệ lớn của nước này.

Theo các quy định mới sửa đổi, Tòa án tối cao Hàn Quốc sẽ giám sát tăng cường việc tuyên án và kéo dài thời gian ngồi tù đối với tội danh làm rò rỉ công nghệ Hàn Quốc.  

Mặc dù hình phạt của Hàn Quốc đối với hành vi rò rỉ công nghệ tương tự như ở các quốc gia khác, bao gồm cả án tù từ 5 năm trở lên đối với hành vi rò rỉ công nghệ có “tác động đáng kể đến an ninh quốc gia và kinh tế”. Song trên thực tế, việc tuyên án không thực hiện được do các yêu cầu khó đáp ứng.

Các quy tắc trước đây của Hàn Quốc yêu cầu các Công tố viên chứng minh ý định rò rỉ bí mật của nghi phạm để hành động bị trừng phạt là rò rỉ công nghệ cốt lõi. Điều này dẫn đến việc 30% được trắng án và 54% các vụ án như vậy được hưởng án treo.

Bộ Công nghiệp Hàn Quốc cho biết, một số quy tắc ngăn chặn rò rỉ công nghệ chưa được quản lý, chẳng hạn như rò rỉ sau khi một quỹ đầu tư tư nhân nước ngoài mua lại một công ty Hàn Quốc, cũng sẽ được đưa vào dự thảo luật sửa đổi để trình lên quốc hội. Bộ Công nghiệp Hàn Quốc cho biết thông tin chi tiết về hướng dẫn tuyên án mới dự kiến ​​sẽ có hiệu lực vào đầu năm tới.

Tháng trước, Cảnh sát Hàn Quốc đã bắt giữ 77 người, trong 35 vụ bị tình nghi là gián điệp công nghiệp trong một cuộc điều tra toàn quốc kéo dài 4 tháng qua.

Từ khóa: trừng phạt, rò rỉ công nghệ, công nghệ chip, công nghệ màn hình, tòa án tối cao hàn quốc

Thể loại: Khoa học - Công nghệ

Tác giả: châu anh/vov1 (biên dịch)

Nguồn tin: VOVVN

Bình luận






Đăng nhập trước khi gửi bình luận Đăng nhập